PoE系统简介PoE技术出发点很简单，就是让IP、WLAN接入点、网络摄像头等小型网络设备可以直接从以太网线获得电力，毋庸单独铺设电力线;以简化系统布线，降低网络基础设施的建设成本。它通过4对双绞线中空闲的2对来传输电力。
在PoE系统中，有两个较为重要的术语，大家需要知道：PSE和PD。
提供电力的叫做"供电设备"(PSE)，而使用电源的称为"受电设备"(PD)。
回收费斯托：磁性开关，电磁阀，液压缓冲器，过滤器，压力开关，节流阀，气缸，气爪等半导体生产流程由晶圆制造，晶圆测试，芯片封装和封装后测试组成，晶圆制造和芯片封装讨论较多，而测试环节的相关知识经常被边缘化，下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容，主要集中在WAT，CP和FT三个环节。集成电路设计、制造、封装流程示意图WAT（WaferAcceptanceTest）测试，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），对Wafer划片槽（ScribeLine）测试键（TestKey）的测试，通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定，CMOS的电容，电阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据，测试方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT测试机台上，由WATRecipe自动控制测试位置和内容，测完某条TestKey后，ProbeCard会自动移到下一条TestKey，直到整片Wafer测试完成。