LED日光灯电源发热到一定程度会导致烧坏，关于这个问题，也见到过有人在行业论坛发过贴讨论过。本文将从芯片发热、功率管发热、工作频率降频、电感或者变压器的选择、LED电流大小等方面讨论LED日光灯电源发热烧坏MOS管技术。
芯片发热本次内容主要针对内置电源调制器的高压驱动芯片。
假如芯片消耗的电流为2mA，300V的电压加在芯片上面，芯片的功耗为0.6W，当然会引起芯片的发热。
驱动芯片的电流来自于驱动功率MOS管的消耗，简单的计算公式为I=cvf（考虑充电的电阻效益，实际I=2cvf，其中c为功率MOS管的cgs电容，v为功率管导通时的gate电压，所以为了降低芯片的功耗，必须想办法降低v和f.如果v和f不能改变，那么请想办法将芯片的功耗分到芯片外的器件，注意不要引入额外的功耗。
回收西门子：回收西门子PLC-西门子CPU处理器-回收西门子触摸屏-回收西门子各配件为了解决众多厂商在电池内阻测试中遇到的难题，艾德克斯推出了IT5100系列电池测试仪。IT5100系列为用户提供在线和离线两种内阻测试仪。
其中在线内阻测试仪通过对电池内阻的在线测量和分析，可以快速而准确的得到各个单体电池内阻在使用或充电过程中的动态变化，从而判断电池是否失效。
一般在线内阻测试仪配合电池包充放电循环寿命测试较多，可反映出整个寿命周期中，电池包内部单体电芯内阻所呈现的动态变化。
IT5102在线内阻测试仪可同时监控16个单体电芯内阻变化，并且支持最多17台主从并联，将单体电芯测量数量扩展到272个，电压电阻测量分辨率可达0.1mV、0.1mΩ。